Painting control by determination of film thickness
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
control of the optical properties of nanoparticles by laser fields
در این پایان نامه، درهمتنیدگی بین یک سیستم نقطه کوانتومی دوگانه(مولکول نقطه کوانتومی) و میدان مورد مطالعه قرار گرفته است. از آنتروپی ون نیومن به عنوان ابزاری برای بررسی درهمتنیدگی بین اتم و میدان استفاده شده و تاثیر پارامترهای مختلف، نظیر تونل زنی(که توسط تغییر ولتاژ ایجاد می شود)، شدت میدان و نسبت دو گسیل خودبخودی بر رفتار درجه درهمتنیدگی سیستم بررسی شده اشت.با تغییر هر یک از این پارامترها، در...
15 صفحه اولThin dielectric film thickness determination by advanced transmission electron microscopy.
High-resolution transmission electron microscopy (HR-TEM) has been used as the ultimate method of thickness measurement for thin films. The appearance of phase contrast interference patterns in HR-TEM images has long been confused as the appearance of a crystal lattice by nonspecialists. Relatively easy to interpret crystal lattice images are now directly observed with the introduction of annul...
متن کاملThickness Control of Piezoelectric Film Made by Stencil Printing
In various industries such as power plants, ultrasonic non-destructive testing (NDT) is widely used because of cost effectiveness and sub-surface defect/flaw detection capability. Piezoelectric films made of sol-gel composites could be useful as ultrasonic transducers due to high tempearature durability, reasonable signal strength, curved surface suitability, relatively low center frequency suc...
متن کاملdetermination of olanzapine and thiourea using electrodes modified by dna and film of copper-cobalt hexacyanoferrate & investigation of electro-oxidation of some catechol derivatives in the presence of 4-phenylsemicarbazid
چکیده هدف از این کار بررسی الکترواکسیداسیون کتکول و مشتقات آن در حضور 4-فنیل سمی کاربامازید بوده است اکسیداسیون کتکولها ترکیبات نا پایدار کینونها را تولید می کنند که این ترکیبات می تواند در واکنش مایکل بعنوان پذیرنده نوکلئوفیل عمل نمایند. در ادامه اکسایش کتکولهای (a-c1) را درحضور 4-فنیل سمی کاربامازید در محلول آب/استونیتریل (90/10)بوسیله ولتامتری چرخه ای و کولن متری در پتانسیل ثابت مورد بررسی ...
15 صفحه اولEffect of Thickness on the Structural Properties of Tellurium Film Prepared by Thermal Evaporation
In this research, tellurium (Te) film with thicknesses of 100-250 nm were deposited on ceramic substrates by thermal evaporation at 373 K. The thickness of the film was determined by Rutherford backscattering spectroscopy. The influence of the thickness on the structural, morphological and molecular bonds was characterized using XRD, scanning electron microscope, and Raman spectroscopy. The XRD...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Journal of the Japan Society of Colour Material
سال: 1965
ISSN: 0010-180X
DOI: 10.4011/shikizai1937.38.184